一文教你如何進(jìn)行晶粒度分析
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晶粒度表示晶粒大小的尺度。金屬的晶粒大小對(duì)金屬的許多性能有很大影響。晶粒度的影響，實(shí)質(zhì)是晶界面積大小的影響。晶粒越細(xì)小則晶界面積越大，對(duì)性能的影響也越大。對(duì)于金屬的常溫力學(xué)性能來說，一般是晶粒越細(xì)小，則強(qiáng)度和硬度越高，同時(shí)塑性和韌性也越好。
一般情況下測(cè)定平均晶粒度有三種基本方法：比較法、面積法、截點(diǎn)法。具體如下
1、比較法：比較法不需計(jì)算晶粒、截矩。與標(biāo)準(zhǔn)系列評(píng)級(jí)圖進(jìn)行比較，用比較法評(píng)估晶粒度時(shí)一般存在一定的偏差(±0.5級(jí))。評(píng)估值的重現(xiàn)性與再現(xiàn)性通常為±1級(jí)。
2、面積法：面積法是計(jì)算已知面積內(nèi)晶粒個(gè)數(shù)，利用單位面積晶粒數(shù)來確定晶粒度級(jí)別數(shù)。該方法的精確度中所計(jì)算晶粒度的函數(shù)，通過合理計(jì)數(shù)可實(shí)現(xiàn)±0.25級(jí)的精確度。面積法的測(cè)定結(jié)果是無偏差的，重現(xiàn)性小于±0. 5級(jí)。面積法的晶粒度關(guān)鍵在于晶粒界面明顯劃分晶粒的計(jì)數(shù)
圖：面積法
3、截點(diǎn)法：截點(diǎn)數(shù)是計(jì)算已知長度的試驗(yàn)線段（或網(wǎng)格）與晶粒界面相交截部分的截點(diǎn)數(shù)，利用單位長度截點(diǎn)數(shù) 來確定晶粒度級(jí)別數(shù)。截點(diǎn)法的精確度是計(jì)算的截點(diǎn)數(shù)或截距的函數(shù)，通過有效的統(tǒng)計(jì)結(jié)果可達(dá)到 ±0.25級(jí)的精確度。截點(diǎn)法的測(cè)量結(jié)果是無偏差的，重現(xiàn)性和再現(xiàn)性小于±0.5級(jí)。對(duì)同一精度水平，截點(diǎn)法由于不需要精確標(biāo)計(jì)截點(diǎn)或截距數(shù)，因而較面積法測(cè)量快。
同心圓測(cè)量線（截點(diǎn)法）
以上只是大致的測(cè)定方法太過籠統(tǒng)，如果真的拿到一個(gè)具體的微觀照片，我們?cè)撛趺醋瞿?？下面我們來看一下具體操作與計(jì)算方法。
1、確定照片的放大率
先測(cè)量微觀照片的尺寸，長度或?qū)挾冗x擇其一，然后測(cè)量出試樣的實(shí)際長度或者寬度
放大率=圖片距離/實(shí)際距離
2、找出晶粒度級(jí)別數(shù)
計(jì)算出放大率之后就可以確定晶粒度級(jí)別數(shù)。首先要計(jì)算出試樣中的晶粒數(shù)。
晶粒數(shù)=完整的晶粒數(shù)+0.5倍的部分晶粒。完整晶粒的晶界都是可觀察到的。
其次計(jì)算出實(shí)際面積，實(shí)際面積=圖片長/放大率 x 寬/放大率
根據(jù)ASTM標(biāo)準(zhǔn)中的計(jì)算公式：N=2（n-1）其中N是指放大100倍下每平方英寸的晶粒數(shù)，n是指晶粒級(jí)別數(shù)。進(jìn)行單位換算之后可得到N的值。最后可計(jì)算出晶粒級(jí)別數(shù)n。
3、計(jì)算出平均晶粒直徑
平均晶粒直徑=試樣的實(shí)際長度/截取部分的晶粒數(shù)
實(shí)際長度=截線長度/放大率
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